-
1by Kittel, C., Bitter, F., Poss, H. L., Zacharias, J. R., Slater, J. C., Biondi, M. A., Maxwell, E., Herlin, M. A., Beard, C. I., Zabel, C. W., Lin, S. T., Kyhl, Robert L., Alpert, N. L., Garrison, J. B., Tisza, Laszlo, Pellam, J. R., Brown, S. C., Julian, R. S., Kerr, Donald E., Davis, L., Jr., Lehr, G. G., Nagle, D. E., Allis, W. P., Luttinger, J. M., Cavileer, R. P., Strandberg, Malcom W. P., Squire, C. F., Feld, B. T., Wentink, T., Jr., Squire, C. P., Everhart, E., Hillger, R. E., Ingersoll, J. G., Hill, Albert G.Get full text
Published 2010
Technical Report